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Modeling the role of oxygen vacancy on ferroelectric properties in thin films

机译:模拟氧空位对薄膜铁电性能的作用

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摘要

The presence of oxygen vacancies is considered to be the cause of various phenomena in ferroelectric thin films. In this work, the role of oxygen vacancies is theoretically modeled. Various properties are numerically simulated using the two-dimensional Ising model. In the presence of an oxygen vacancy in a perovskite cell, the octahedral cage formed by oxygen ions is distorted so that the potential energy profile for the displacement of the titanium ion becomes asymmetric. It requires additional energy to move from the lower minimum position to the higher one. Moreover, space charges are also developed by trapping charge carriers into these vacancies. The combination of the pinning effect induced by the distorted octahedral cage and the screening of the electric field in the presence of space charges results in phenomena such as fatigue and imprint.
机译:氧空位的存在被认为是铁电薄膜中各种现象的原因。在这项工作中,理论上模拟了氧空位的作用。使用二维Ising模型对各种属性进行数值模拟。在钙钛矿电池中存在氧空位的情况下,由氧离子形成的八面体笼会变形,从而使钛离子置换的势能分布变得不对称。从较低的最小位置移动到较高的最小位置需要更多的能量。此外,通过将电荷载流子俘获到这些空位中也产生了空间电荷。由扭曲的八面体笼子引起的钉扎效应与存在空间电荷时的电场屏蔽相结合,会导致诸如疲劳和压印的现象。

著录项

  • 作者

    Lo, VC;

  • 作者单位
  • 年度 2002
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

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